معرفی و خدمات مرکز

 

نام دستگاه:

نام لاتین 

نام اختصاری دستگاه

ساخت شرکت

میکروسکوپ حرارتی

Heating microscope

HSM

LEITZWETZLAR (آلمانی)

کاربرد: توانایی عکس برداری از نمونه داخل کوره در حین گرمایش

توضیحات: حداکثر دمای کاری دستگاه موجود تا دمای 1450 درجه سانتی گراد می باشد.

 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز اندازه گیری مساحت سطح و تخلخل

BET

خدمات قابل ارائه:

  •  آنالیز کامل – پیش آماده سازی تحت خلا
  • تفسیر داده های آنالیز اندازه گیری مساحت سطح و تخلخل (14Plot)

موارد قابل اندازه گیری:

  • اندازه‌گیری دقیق مساحت سطح،
  • حجم و توزیع منافذ و تخلخل در بسیاری از کاربردها مانند کاتالیست‌ها،
  • کربن فعال، نانو جاذب‌ها، ترکیبات و افزودنی‌ها،
  •  مواد دارویی، سرامیک ­ها، پلیمرها، رنگ ­ها، پوشش ­ها، صنایع غذایی
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز میکروسکوپ الکترونی عبوری

TEM

خدمات قابل ارائه:

  • آنالیز TEM­ نمونه­ های پودری به همراه آماده سازی
  • هیستوگرام توزیع اندازه ذرات براساس تصاویر TEM

موارد قابل اندازه گیری:

  •  استحاله‌های فازی، بازیابی و تبلور مجدد، خستگی، اکسیداسیون، رسوب،
  • بررسی‌های ساختاری، بررسی سطوح شکست، تشخیص مناطق دارای تنش پسماند،
  • شناسایی ترکیب شیمایی فازهای غیرآلی،
  • مطالعه سرامیک‌ها و کانی‌ها و ...
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز میکروسکوپ الکترونی روبشی

SEM

خدمات قابل ارائه:

  •  

موارد قابل اندازه گیری:

  •  
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز میکروسکوپ‌های الکترونی نشر میدانی

FESEM-EDS-Mapping

خدمات قابل ارائه:

  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های پودری (6-10 تصویر)
  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های پودری (6-10 تصویر) + EDS یک سایت
  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های بالک (6-10 تصویر)
  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های بالک (6-10 تصویر)+ EDS یک سایت
  • آنالیز EDS به ازای هر نمونه (بدون تصویربرداری)
  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های پودری (6-10 تصویر) + Mapping یک سایت
  • آنالیز Mapping به ازای هر نمونه (بدون تصویربرداری)
  • آماده سازی، پوشش دهی طلا و تصویربرداری نمونه های پودری (6-10 تصویر)+ Line Scan یک سایت
  • تصاویر اضافی

موارد قابل اندازه گیری: تعیین ترکیب شیمیایی زمینه و آنالیز نقطه­ای و بالک به صورت عنصری (EDS)، تهیه تصاویر و بررسی ساختار میکروسکوپی، بررسی سطح شکست (فرکتوگرافی)، شناسایی اولیه مواد مجهول، اندازه­ گیری ابعاد ذرات، آنالیز ساختاری و شیمیایی فیلرهای جوشکاری و بریزینگ، آنالیزهای صفحه­ای و خطی، تهیه تصاویر سه بعدی، تهیه تصاویر از نمونه­ های بایو، تهیه تصاویر از نمونه ­های گیاهی و جانوری، تهیه تصاویر در خلاء پایین و در ولتاژهای مختلف.

 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز XPS

 

خدمات قابل ارائه:

  • آنالیز XPS

موارد قابل اندازه گیری:

  •  آنالیز سطح مواد آلی و غیر آلی،
  •  رنگ ‏ها و پسماندها،
  • تعیین اطلاعات ترکیب و حالت شیمیایی از سطوح،
  • تعیین پروفایل عمق برای ترکیب فیلم های نازک،
  • اندازه ‏گیری دز و ضخامت اکسی نیترید سیلیکون،
  • اندازه‏گیری ضخامت فیلم نازک اکسید (Al2O3، SiO2 و ...)
 

 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز پراش اشعه ایکس

XRD

خدمات قابل ارائه:

  • طیف خام از 5 درجه تا 80 درجه (Wide Angle) به همراه FWHM
  • طیف خام از 7/0 درجه تا 10 درجه (Low Angle)
  • آنالیز Grazing
  • شناسایی فاز
  • محاسبه کریستالیت سایز

موارد قابل اندازه گیری:

  • تعیین فاز برای تنوع زیادی از نمونه­ های توده و فیلم نازک،
  • تشخیص فازهای بلوری اقلیت (در غلظت­ های بزرگتر از حدود ۱%)،
  • تعیین اندازه کریستالیت برای فیلم­ های برای فیلم ­ها و مواد پلی کریستالین،
  • تعیین درصد مواد در اشکال کریستالی در مقابل آمورف­ ها،
  • اندازه­ گیری نمونه ­های پودر شل یا محلول خشک کمتر از میلی گرم برای تعیین فاز،
  • تحلیل فیلم ­هایی به نازکی ۵۰ آنگستروم برای بررسی بافت و فاز،
  • اندازه ­گیری کشش و ترکیب در فیلم­های نازک اپی تکشیال،
  • اندازه ­گیری تنش باقیمانده در توده فلزات و سرامیک ­ها.
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

طیف­ نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس

آنالیز XRF

خدمات قابل ارائه:

  • آنالیز XRF به همراه آماده سازی

موارد قابل اندازه گیری:

  • تحقیقات سنگ ­های آذرین و رسوبی،
  • تحقیقات خاک،
  • معدن (به عنوان مثال درصد مواد موجود در سنگ معدن)،
  • تولید سیمان،
  • تولید سرامیک و شیشه،
  • متالوژی مواد،
  • مطالعات محیط زیستی (برای مثال آنالیز یک ماده خاص در فیلتر های هوا)،
  • صنایع نفت (برای مثال میزان گوگرد نفت خام و محصولات پتروشیمی)،
  • تحقیقات میدانی در زمین­شناسی و محیط زیست (استفاده از دستگاه قابل حملXRF).
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز طیف سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز

آنالیز FTIR

خدمات قابل ارائه:

  • آنالیز FTIR نمونه های پودری و مایع به همراه آماده سازی

موارد قابل اندازه گیری:

  • تشخیص آلودگی­ ها و ناخالصی های آلی (ذرات، پسماندها و  ...)،
  • مشخصه­ یابی و تشخیص مواد آلی (جامدات، پودرها، فیلم ها و مایعات)،
  • محاسبه میزان کمی O و H در سیلیکون و H در ویفرهای  SiN.
 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز حرارتی TGA-DTA

 

خدمات قابل ارائه:

  • آنالیز TGA تا دمای 400 درجه سانتی گراد (با نرخ 10 درجه بر دقیقه)
  • آنالیز TGA تا دمای 600 درجه سانتی گراد (با نرخ 10 درجه بر دقیقه)
  • آنالیز TGA تا دمای 800 درجه سانتی گراد (با نرخ 10 درجه بر دقیقه)

موارد قابل اندازه گیری:

  • مراحل افت وزنی و شرایط دمای آن،
  • شناسایی کیفی و کمی مواد معدنی: جستجوی ماده­ی معدنی در یک نمونه،
  • مواد پلیمری: برای مشخصه­ یابی مواد پلیمری با توجه به شناسایی تغییرات یا انتقال ترموفیزیکی، ترموشیمیایی، ترمومکانیکی و ترموالاستیک،
  • اندازه­گیری بلورین: اندازه­ گیری کسر جرمی یا توده­ای از مواد بلوری در پلیمرهای نیمه بلوری،
  • آنالیز مواد بیولوژیکی: برای تعیین تاریخ استخوان­ های باقیمانده و یا در مطالعات باستان شناسی،
  • آنالیز DTA اعلام داده­های تبدیل فازی.
 

 

نام دستگاه:

نام لاتین 

نام اختصاری دستگاه

ساخت شرکت

آنالیز حرارتی همزمان

Simultaneous Thermal Analysis

409  STA

NETZSCH  (آلمانی)

موارد قابل اندازه گیری با دستگاه:

1.  جریان گرمایی با دما و زمان

2.   تغییرات وزنی با دما و زمان

3.   بررسی واکنش های احتمالی در حین فرایند گرمایش از جمله واکنش های شیمیایی تبلور و...

4.  محاسبه و اندازه گیری پارامترهایی از جمله تغییر در جرم، نقطه انتقال شیشه ای، دمای تجزیه، پایداری حرارتی، پایداری اکسیداسیونی، آنتالپی، گرمای ویژه و  نمودارهای فاز

توضیحات: 1. محدوده دمایی دستگاه از دمای محیط تا 1200 درجه سانتی گراد می باشد.

               2. در مورد نمونه هایی که احتمال واکنش احتراقی وجود دارد،انجام آزمون امکان پذیر نیست.

* در حال حاضر اماده سرویس دهی نمی­باشد.

 

 

نام آزمون:

نام اختصاری

آنالیز سختی سنجی

 

خدمات قابل ارائه:

  • سختی سنجی ماکرو به روش­های ویکرز، برینل و راکول
  • سختی سنجی میکرو به روش­های ویکرز و نوپ

موارد قابل اندازه گیری:

 

 

نام دستگاه:

نام لاتین 

نام اختصاری دستگاه

ساخت شرکت

دیلاتومتر

Dilatometer

-

NETZSCH (المانی)

موارد قابل اندازه گیری:

1. تعیین ضریب انبساط حرارتی در محدوده دمایی ذکر شده

  2. اندازه گیری تغییر طول (بر حسب میکرون)

توضیحات:  1. نمونه به شکل مکعب مستطیل و با طول 5 سانتی متر و قطر 6 میلیمتر می باشد.

                2. نمونه باید جامد و غیر قابل اشتعال و در اثر حرارت تجزیه نشود

* در حال راه اندازی

 

نحوه همکاری

ردیف

نام دستگاه یا فرایند

نوع آزمون

محدودیت ها

شرح

قیمت مصوب (به ریال)

1

پرینتر سه بعدی

ساخت قطعات سه بعدی

ساخت نمونه­ های مینیاتوری با ابعاد حداکثر 20×20×20 سانتیمتر با دقت 100 میکرون، حداکثر دما 250 درجه، فرمت ورودی STL-OBJ، مواد قابل استفاده ABS-PLA، قابلیت استفاده از مواد با رنگ­ های مختلف

هر گرم

4،000

2

BETسطح ویژه

خواص فیزیکی

 

اندازه­ گیری سطح ویژه هر نمونه

2،200،000

3

TEM میکروسکوپ الکترونی عبوری

ریزساختار و مورفولوژی

مختص نمونه­ های پودری

هر نمونه به همراه آماده­ سازی

5،000،000

4

SEM میکروسکوپ الکترونی روبشی

ریزساختار و مورفولوژی

1. آنالیز عنصری صورت نمی ­گیرد.

2. برای دیدن ذرات نانومتری

3. محدودیت رزولوشن وجود دارد.

آنالیز SEM معمولی هر ساعت

1،200،000

پوشش­ دهی طلا (هر ران بین 6-1 نمونه)

1،000،000

5

XRD

ریزساختار و مورفولوژی

1. نمون ه­های آمورف امکان­پذیر نمی­باشد.

2. نمونه­ های مایع امکان­پذیر نمی­باشد.

3. شناسایی فازهای زیر 5% وزنی امکان­پذیر نمی ­باشد.

اسکن نرمال بین 5 تا 80 درجه-

گام: 0/02 درجه- گام زمانی 0/5 ثانیه

900،000

اسکن سفارشی هر 30 دقیقه

شناسایی فازی نمونه به ازای هر فاز

800،000

120،000

XRD دما بالا (HTK)، در هر دما

1،700،000

6

XRF فلورسانس اشعه ایکس

آنالیز شیمیایی

نمونه­ های مایع امکان­پذیر نمی­ باشد.

تعیین نیمه کمی عناصر موجود در نمونه (در مورد نمونه­ های پودری نیاز به آماده ­سازی دارد و به صورت مجزا باید ثبت گردد)

1،100،000

7

آماده­ سازی نمونه به صورت قرص جهت XRF

 

 

آماده­ سازی نمونه به صورت قرص ذوبی

800،000

آماده­ سازی نمونه به صورت قرص پودری

400،000

8

 FTIR اسپکتروفتومتر مادون قرمز

اسپکتروسکوپی

1. محلول آبی

2. نمونه­ هایی که قابلیت پودر شدن ندارد، امکان­پذیر نمی­ باشد.

نمونه ­های جامد و مایع در مد Mid هر نمونه

450،000

نمونه ­های جامد و مایع در مد Far هر نمونه

750،000

9

آزمون TG-DTA

خواص حرارتی

1. اتمسفرهای قابل استفاده هوا و آرگون می ­باشند.

2. انجام آزمون در مورد موادی که باعث واکنش انفجاری می­ گردند، امکان­پذیر نمی­ باشد.

3. در صورت آلودگی و تخریب بوته مبلغ 1،500،000 ریال معادل قیمت بوته اخذ می­ گردد.

4. انجام آزمون توسط بوته­ های ارائه شده توسط مشتری در صورتی امکان­پذیر است که نمونه بوته­های ارائه شده قبلاً توسط کارشناس دستگاه بررسی شده باشند.

5. هزینه بررسی به طور جداگانه دریافت می­ گردد.

از دمای محیط تا دمای 600 درجه با نرخ گرمایش 10 درجه بر دقیقه

1،000،000

از دمای محیط تا دمای 600 درجه با نرخ گرمایش 5 درجه بر دقیقه

1،400،000

از دمای محیط تا دمای 900 درجه با نرخ گرمایش 5 درجه بر دقیقه

1،700،000

از دمای محیط تا دمای 1200 درجه با نرخ گرمایش 10 درجه بر دقیقه

1،800،000

امکانسنجی قابلیت استفاده از بوته ارائه شده توسط مشتری

600،000

10

سختی­ سنجی ویکرز

خواص مکانیکی

 

بررسی امکان انجام آزمون روی نمونه­ ها

120،000

هر نمونه با حداقل 5 ایندنت سالم

600،000

11

سختی

خواص مکانیکی

برینل، راکول و ویکرز

هر نمونه

300،000

 

 

 

 

  • دفتر مركزي: یزد، خیابان مطهری، پارک علم و فناوری، پردیس فناوری اطلاعات، واحد 101
  • آزمايشگاه: يزد، بلوار دانشجو، سه راه تعاون، مجتمع ادارات پارك علم و فناوري يزد- پرديس زيست فناوري و سيستمهاي پيشرفته - مجموعه آزمايشگاه سراميك
  • 035-37260108
  • 035-37260109
  • info@ictdc.com
نماد اعتماد الکترونیکی